AI智慧缺陷辨識系統-應用於非破壞檢測設備的磁粉探傷解決方案
發表年月 2024-07 應用領域 AI製造運用應用/研究單位 美國煉油公司、日本汽車零件製造廠、台灣軍工研發單位等
本系統運用 DeepLabV3 深度學習演算法,建構一套針對保安零件瑕疵辨識的 AI 模型。為提升辨識準確率,開發團隊進行了多種攝影鏡頭與取像環境的測試,共拍攝 1,200 張探傷缺陷影像做為訓練資料,藉此強化模型辨識能力。系統透過筆電連接 RS232 轉 USB 介面,接收啟動指令後,每秒擷取 30 張即時畫面,並對每張影像應用 C1 子項所設計的瑕疵辨識演算法進行判讀,並即時在螢幕上標示出探傷瑕疵部位。整體架構可應用於製造流程的品質控管以及非破壞檢測的磁粉探傷,提升檢測探傷效率化和省人化,協助企業實現智慧缺陷非破壞檢測的探傷解決方案目標精進。
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