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AOI瑕疵檢測快精準、智動複檢更省力

發表年月 2018-06   應用領域 AI製造運用


AI應用技術
瑕疵檢測  

技術應用領域
PCB、半導體、面板等瑕疵檢測  

應用名稱
利用深度學習技術進行瑕疵複檢  

應用描述
隨著電子元件微型化,對檢測設備準確度之要求越來越高,然而現今檢測設備大多仍採取傳統影像處理技術來檢測瑕疵,無法滿足高準確度之需求,為了避免漏檢瑕疵,業者被迫將檢測機台靈敏度調高,其副作用就是造成了大量假瑕疵的產生,使得產線仍須耗費大量人力做二次篩檢,不僅耗費成本,且影響產品品質及生產速度。國內檢測設備業者聯策科技以AI深度學習技術進行真假瑕疵之判定,可協助PCB業者減少一半以上之假瑕疵,促進產線自動化,且以軟帶硬提升設備10倍之價值。  

運用技術
深度學習、電腦視覺  

效益
PCB檢測減少一半以上假瑕疵、提升PCB設備商10倍檢測設備價值、Wafer Fab品質檢測從抽檢變全檢及減少8成目檢 人力、Wafer Probe增加20%檢測產能  

應用/研究單位
工業技術研究院 巨量資訊科技中心  

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